服务详情

　　检测样品：
　　晶体管
　　检测项目：
　　指标检测，击穿检测，性能检测等。
　　检测标准：
　　ASTM E1855-2010使用2N2222A硅双*晶体管作为中子光谱传感器和位移损失监视器的试验方法
　　ASTM F996-2011利用亚阀值电流-电压特性将由于氧化物封闭孔和界面状态引起的电离辐射感应金属氧化物半导体场效应晶体管阀值电压漂移分离成若干分量的试验方法
　　BS EN 120003-1993电子元器件质量评定协调体系.空白详细规范.光电晶体管、光电复合晶体管、光电晶体管阵列
　　BS EN 120004-1993电子元器件质量评定协调体系.空白详细规范:规定环境的有光电晶体管输出的光电耦合器
　　BS EN 150003-1993电子元器件质量评定协调体系规范.空白详细规范.低频放大用管壳额定双*晶体管
　　BS EN 150004-1993电子元器件质量评定协调体系规范.空白详细规范.开关用双*晶体管
　　BS EN 150007-1993电子元器件质量评定协调体系规范.空白详细规范.高频放大用管壳额定的双*晶体管
　　BS EN 150012-1993电子元器件质量评定协调体系规范.空白详细规范.单栅场效应晶体管
　　BS IEC 60747-4-1-2000微波二*管和晶体管.微波场效应晶体管.空白详细规范
　　BS IEC 60747-4-2-2000半导体器件.分立器件.微波二*管和晶体管.集成电路微波放大器.空白详细规范
　　BS IEC 60747-8-4-2004半导体分立器件.电力开关设备的金属氧化物半导体场效应晶体管
　　BS IEC 60747-8-2000半导体器件 第8部分:场效应晶体管 替代BS 6493-1.8:1985
　　BS IEC 60747-9-2007分立半导体器件和集成电路.隔离栅二*晶体管(IGBTs)
　　CB/T 3435-2013船用继电器修理要求
　　CECC 20 004- 001 ED 1-1984环境额定光电晶体管输出光电耦合器
　　CECC 20 004- 002 ISSUE 3-1987环境额定光电晶体管输出光电耦合器
　　CECC 20 004- 003 ED 1-1988环境额定光电晶体管输出光电耦合器
　　CECC 20 004- 004 ISSUE 1-1984环境额定光电晶体管输出光电耦合器
　　CECC 20 004- 006 ISSUE 1-1988SFH601输出光电晶体管光电耦合器
　　CECC 20 004- 007 ISSUE 1-1988SFH610,SFH611输出光电晶体管光电耦合器

1、项目招投标：出具quanwei的第三方CMA/CNAS资质报告；

2、上线电商平台入驻：质检报告各大电商平台认可；

3、用作销售报告：出具具有法律效应的检测报告，让消费者更放心；

4、论文及科研：提供专业的个性化检测需求；

5、司法服务：提供科学、公正、准确的检测数据；

6、工业问题诊断：验证工业生产环节问题排查和修正；

1、电话沟通、确认需求；

2、推荐方案、确认报价；

3、邮寄样品、安排检测；

4、进度跟踪、结果反馈；

5、出具报告、售后服务；

6、如需加急、优先处理；

1、检测行业全覆盖，满足不同的检测；

2、实验室全覆盖，就近分配本地化检测；

3、工程师一对一服务，让检测更精准

4、免费初检，初检不收取检测费用

5、自助下单 快递免费上门取样；

6、周期短，费用低，服务周到；

7、拥有CMA、CNAS、CAL等quanwei资质；

8、检测报告quanwei有效、中国通用；